Design For Test的意思|示意

可测性设计 中国测试精选文章 关键词：电路板；边界扫描；板级测试；可测性设计；JTAG [gap=974]Key words: PCB； Boundary scan； Board level test； Design for test； JTAG

设计 12.1.2可测性设计可测性设计（Design for Test，DFT）是通过控制和观察电路中的信号，确定电路是否正常工作的过程。

为测试着想的设计 为测试着想的设计(DFT, design for test)不是单个人的事 随着自动测试设备成为电子装配过程整体的一部分，DFT必须不仅仅包括传统的硬件使用问...

可测试性设计 ...利诺伊大学电子与计算机工程学系，毕业后一直任职于美国Mentor Graphics公司，主要从事集成电路可测试性设计（Design For Test），验证，故障诊断（Diagnosis），Silicon Debug等研究。