circuit under test的意思|示意
待测电路
circuit under test的网络常见释义
待测电路 ...方法一般是基于STUMPS结 [1]包括扫描设计在内的传统的依赖于ATE的测试方法需构除已经完成扫描设计的待测电路(circuit under test, CUT)要产生大量的测试数据而提高了测试成本面临着很多问题以外还主要包括以下几个功能模块测试向量生成模块[2...
在被测电路 基于压缩测试矢量后复用系统总线传输的测试方案 - docin.com豆丁网 行，然后将各扫描单元中捕获的响应值压缩 输出并与ATE存储中的期望值相比较，以侦测故障的可观察性。 内建白测试技术是一种将激励电路和响戍电路加在被测电路（CircuitUnderTest，CUT）中，以便 实现电路内部测试全过程的自测试技术，主要包括随机测试矢量生成和输出响应分析两部分。它可以
被测试电路 在这种结构中，P触发器是主存储单元，它包含施加到CUT（被测试电路，Circuit Under Test）的测试向量。E链中的触发器用于提供选择触发的数据，这种机制有两种方法来减少不必要的翻转。
circuit under test相关短语
1、 test patterns applied by circuit-under-test 电路自己施加测试矢量
circuit under test相关例句
The microwave switching matrix is to exchange messages between ATS and the circuit units under test, and to provide necessary load for these units.
微波开关矩阵主要是实现自动测试系统与被测电路单元之间的信息交换，以及为被测单元提供必要的负载。
X1 probe: no attenuation, input impedance follow that of scope input impedance (usually 1 Mohm). This type of probe is seldom used because of heavy loading effect on circuit under test.
X1探头﹕没有衰减﹐输入阻抗跟示波器输入阻抗一样(通常是1兆欧)。由于对测试电路有很大的负载影响﹐所以很少使用这种探头。
For high frequency, or low amplitude measurement, probe ground shall be connected to appropriate points in the circuit under test.
对于高频或低幅值测量﹐探头的地应接到测试电路中的适当位置。
Space Micro received application-specific integrated circuit (ASIC) devices in March from their silicon foundry and are under test and evaluation.
这种专用集成电路，目前正处于测试和评估阶段。
For maximum safety, do not touch the product, test cables, or any other instruments while power is applied to the circuit under test.
为了最大程度的安全，在被测电路加有电源时，请勿接触产品、测试电缆或其它任何仪器。
Electrostatic coupling or interference occurs when an electrically charged object approaches the input circuit under test.
带电物体接近被测电路的输入端时，就会发生静电耦合和干扰。