Wafer Probe Test的意思|示意
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晶圆探针测试
Wafer Probe Test的网络常见释义
测试 第一次测试 常常是在硅片加工完成后，测试仪通过探针压到芯片的焊盘上，这叫做Wafer测试 （Wafer Probe Test），这样的方法一般只做很简单的测试，比如电气连通性、电流测 试和一些专门为工艺调试的电路参数测试等。